Unsere Fourier-Transformations Infrarot (FTIR) Spektrometer erm?glichen Messungen in Reflexion und Transmission vom fern-infraroten bis zum sichtbaren spektralen Bereich. Die Messungen k?nnen durch ein angekoppeltes Infrarotmikroskop auch an sehr kleinen Proben mit lateralen Abmessungen von wenigen 100 ?m durchgeführt werden.

Um Messungen unter extremen Bedingungen durchzuführen, werden die zu untersuchenden Proben in optische Kryostate eingebaut, die Messungen bei tiefen Temperaturen oder auch gleichzeitig bei hohen Drücken erm?glichen.

Für Hochdruckmessungen werden Proben in Diamantstempelzellen eingebaut, die Drücke bis ca. 20 GPa erm?glichen. Der Maximaldruck ist abh?ngig von der Kalettengr??e (900, 800, 600, 500 ?m) der Diamanten.

Mit unserer Bedampfungsanlage k?nnen wir verschiede Substrate mit Materialien wie Silber oder Gold bedampfen.

Das UV-VIS Spektrometer wird genutzt um Messungen im ultravioletten und sichtbaren Spektralbereich mithilfe eines CCD-Spektrographen durchzuführen.

Mithilfe eines selbstgebauten Infrarotmikroskops k?nnen Messungen bei tiefen Temperaturen und bei hohen Drücken simultan durchgeführt werden.

Mit dem EDX Messger?t k?nnen Materialien mittels energiedispersiver R?ntgenspektroskopie untersucht werden, um Filmdicken oder elementare Kompositionen zu ermitteln.

Das Rasterkraftmikroskop wird genutzt um Oberfl?chen mechanisch abzutasten um mechanische Kr?fte im Nanometerbereich zu ermitteln.

Mit dem Rasterelektronenmikroskop wird ein fokussierter Elektronenstrahl über die Oberfl?che eines Objekts geführt, um ein vergr??ertes Bild der Oberfl?che zu erzeugen.